产品描述
Pilot V8 Next系列代表了双面飞行探针测试中的一项重要技术创新，克服了水平系统的固有局限性。
其垂直架构是同时探测UUT两侧的解决方案。这增加了测试吞吐量和灵活性，同时保证了快速、精确、可靠和可重复的探测，以及用于测试UUT的所有移动资源的完全可用性。
测试性能：
– 在线测试
– 功能测试
– 通电功能测试
– OTPN (One Touch Per Net) ，带Fnode，用于检测短路开路和节点阻抗
– OPENFIX
– 在板编程
– 边界扫描
– 红外热扫描
– LED测试
– FLYSTRAIN(实时)
– 激光翘曲补偿
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Pilot H4 Next系列自动版本是实现完全自动化飞针测试的解决方案，无需操作员持续在场即可管理测试系统。由于集成了兼容SMEMA协议的传输系统，Pilot H4 Next系列可集成电路板周转架自动装卸装置或与完全与流水线相结合，以完全自动化的模式对电子板执行电路、功能和视觉测试。这是满足中等甚至大批量生产测试需求的理想解决方案。大测试区域可容纳21“x 24”板(540 x 610 mm)板和双面拆分测试。ATE机架最多可扩展1032个模拟通道，可连接至可选的外部针床测试夹具(TPM)。
无治具技术，适用于具有挑战性的探针卡
晶圆制造是一个循序渐进的过程，逐渐形成电子电路。
通过简化，在硅晶圆的制造过程中，一些集成电路被放置在半导体晶圆上。然后将晶圆进行切割和封装。在进行切割之前，需要对电路进行测试。这种电气测试是在探针卡的帮助下进行的。
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