产品描述
法国Tem边界扫描测试仪
一个电子产品，她的生命要经过电路设计，设计调试，工艺设计，生产制造，投入使用后返修等阶段，在这几个阶段，都要对电路板进行测试准备或实际测试。
设计部门要对电路做可测试性设计和电路板的实验调试，工艺部门要对电路板制定测试工艺和编制测试程序，生产部门要在电装生产制造后对电路板测试，维修部门要对使用后发生故障的电路板做故障检查修理。
法国Temento公司开发的边界扫描测试仪针，针对电路板的这四个阶段，或者说这四个不同的部门，提供了适应其各自特点的工作平台。
ENG平台 针对电路板的实验调试阶段或部门的应用；
IND平台 针对制定测试工艺和编制测试程序阶段或部门的应用；
PRO平台 针对生产制造阶段或部门的实际测试应用；(需要IND的编程支持)
REP 平台 针对维修阶段或部门的故障诊断修理应用；(需要IND的编程支持)
这四个系列的产品每个都分为三个级别：
C级是基本级，支持1-3个TAP端口；
E级是扩展级，支持1-6个TAP端口；
P级是完整级，支持1-无限个TAP端口
在这几个系列产品中，IND-P 是功能全，级别高的产品。
必选的选件：
TEM1 JTAG 控制器，具备1个TAP 接口，带一条电缆
TEM4 JTAG 控制器，具备4个TAP 接口，带一条电缆
(以上两个要选一项)
CAB 电缆
其他选件：
ISP Flash 板上编程软件
PCB PCB 图像软件
IO320 320点I/O接插件扩展
IO60 60点I/O接插件扩展
ENG设计调试平台
针对电路板的实验调试阶段或部门的应用
这个平台使工程师可以利用JTAG标准下的边界扫描全部功能，确认调试和测试电路板。这个平台包含了所有的功能：定义测试对象，检查BSDL，检查扫描链路，执行互连测试，用TCL生成功能测试，对信号和网点做诊断，所有工作不超过2天就可以完成。一个重要的好处是，可以在设计调试阶段分析测试覆盖率和可测试性，利用网点导航可以方便的调整设计以提高可测试性和测试覆盖率，使DFT进一步优化。
使您的工作很灵活，多功能，易扩展，更快速!
设计调试平台技术要点
测试覆盖率和可测试性分析
BSDL器件检查
基本结构检查(扫描链路完整性检查)
面向互连，区间，存储器的ATPG自动测试程序发生器
交互性调试
支持90种以上网络表格式
使用TCL语言开发用户测试程序
用波形图或状态表显示结果
交互式故障诊断电路板或器件
交互式控制和观察寄存器，总线，引脚上的数字信号
对FLASH和PLD板上编程
SVF文件格式输出
PCI和USB接口控制器
设计调试平台包括软件模块
系统构建：定义元器件，区域，板，系统，网络表导入
工具箱：先进的调试功能，独立确认TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信号
BSDL检查：检查BSDL符合IEEE1149.1规范
交互式调试：隔离故障，便于调试诊断
ATPG1基础：检查扫描链路，与设计性能保持一致
ATPG2互连：自动测试可测试引脚之间的互连
ATPG3存储区域：自动测试SRAM, SDRAM, DDR2,FLASH, NAND FLASH,
SIP Serial Flash, Asynchronous FIFO 等器件之间的互连
测试扩展：TCL测试扩展用于测试用户自定义的其他进一步测试
程序装载：可以在调试和测试同时对FPGA和CPLD装载程序
Flash编程(option)：可以对任何形式的Flash存储器编程
网表合并(option)：自动生产系统的网络表，针对拼板测试生成
网点导航：生成交互式参考表，显示网点，引脚，JTAG单元，
可以按名字，引脚，单元搜索
Run time生成：输出所有的数据库到其他的相关平台
API 服务器(option)：可以提供应用程序接口，以和用户使用的通用软件平台例如
Windows CVI, Labview 等衔接使JTAG测试一体化
IND编程测试平台
针对制定测试工艺和编制测试程序阶段或部门的应用；
本平台自己可以执行完整的测试，还将测试准备好，完整的提交给下一个生产测试平台，使得生产测试平台可以简便完整的运行测试。
编程测试平台技术要点
测试覆盖率和可测试性分析
BSDL器件检查
基本结构检查(扫描链路完整性检查)
面向互连，区间，存储器的ATPG自动测试程序发生器
交互性调试
支持90种以上网络表格式
使用TCL语言开发用户测试程序
用波形图或状态表显示结果
交互式故障诊断电路板或器件
交互式控制和观察寄存器，总线，引脚上的数字信号
对FLASH和PLD板上编程
SVF文件格式输出
PCI和USB接口控制器
组织管理测试数据根据实际需要
运行完整的测试程序
调整或简化测试方案
输出测试程序给生产平台
编程测试平台包括软件模块
系统构建：定义元器件，区域，板，系统，网络表导入
工具箱：先进的调试功能，独立确认TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信号
BSDL检查：检查BSDL符合IEEE1149.1规范
交互式调试：隔离故障，便于调试诊断
ATPG1基础：检查扫描链路，与设计性能保持一致
ATPG2互连：自动测试可测试引脚之间的互连
ATPG3存储区域：自动测试SRAM, SDRAM, DDR2,FLASH, NAND FLASH,
SIP Serial Flash, Asynchronous FIFO 等器件之间的互连
测试扩展：TCL测试扩展用于测试用户自定义的其他进一步测试
程序装载：可以在调试和测试同时对FPGA和CPLD装载程序
Flash编程(option)：可以对任何形式的Flash存储器编程
网表合并(option)：自动生产系统的网络表，针对拼板测试生成
网点导航：生成交互式参考表，显示网点，引脚，JTAG单元，
可以按名字，引脚，单元搜索
Run time生成：输出所有的数据库到其他的相关平台
API 服务器(option)：可以提供应用程序接口，以和用户使用的通用软件平台例如
Windows CVI, Labview 等衔接使JTAG测试一体化
测试管理：根据需要选择调整测试方案策略
测试报告编辑：根据使用要求编辑任何形式的报告格式
生产测试准备：本平台自己可以执行完整的测试，
还将测试准备好，完整的提交给下一个生产测试平台，使得生产测试平台可以简便完整的运行测试。
PRO生产测试平台
针对生产制造阶段或部门的实际测试应用；
本平台使测试成为很简便的一键式操作，只需选择测试编程平台传递下来的测试程序。管理员可以选择测试顺序和测试程序。
生产测试平台技术要点
调入测试编程平台的程序
执行自动测试和板上编程
管理员和操作员分级
打印测试报告
生产测试平台包括软件模块
程序装载：可以在测试同时对FPGA和CPLD装载程序
Flash编程(option)：可以对任何形式的Flash存储器编程
测试报告编辑：根据使用要求编辑任何形式的报告格式
执行生产测试：完整的执行测试编程平台传递过来的测试任务。
测试扫描链路；
确认器件的ID码
ATPG1，2，3的测试
扩展的功能测试
FPGA/CPLD数据流下载
FLASH编程
条码读出：对UUT识别方便
操作员面板：操作员只需根据板子类型选择测试程序，运行测试，
读测试报告，无需专门培训。
管理员面板：管理员在生产测试之前可以调整测试顺序，
确定JTAK连接电缆，信号确认
REP 诊断维修平台
针对维修阶段或部门的故障诊断修理应用
针对返修的板子，使用本平台可以方便快速的诊断故障进行修理。利用生产平台传递的信息和图形化的电路图可以方便的看到故障位置。利用网点导航可以把故障定位在网点上。结合探针可以很快的确定和排除故障。
诊断维修平台技术要点
观看电路图图形
图形上标识出故障点
故障点定位
执行测试程序
输出统计数据
针对故障诊断需求编写特殊测试
故障平台包括软件模块
工具箱：先进的调试功能，独立确认TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信号
交互式调试：隔离故障，便于调试诊断
测试扩展：TCL测试扩展用于测试用户自定义的其他进一步测试
程序装载：可以在调试和测试同时对FPGA和CPLD装载程序
Flash编程(option)：可以对任何形式的Flash存储器编程
测试报告编辑：根据使用要求编辑任何形式的报告格式
网点导航：生成交互式参考表，显示网点，引脚，JTAG单元，
可以按名字，引脚，单元搜索
PCB 视图(option)：利用图形化显示的电路图可以方便的看到测试显示的故障位置
执行生产测试：完整的执行测试编程平台传递过来的测试任务。
测试扫描链路；
确认器件的ID码
ATPG1，2，3的测试
扩展的功能测试
FPGA/CPLD数据流下载
FLASH编程
相关产品
留言咨询